Un procedimiento de muestreo define las normas que especifican cómo calcula el sistema el tamaño de la muestra y contiene la información sobre la valoración de una característica de inspección durante la entrada de resultados ( por atribut os , variable, manual, etc.).

Normalmente, los procedimientos de muestreo se almacenan en la característica de una hoja de ruta o especificación de material. Sin embargo, puede fijar el tamaño de la muestra sin referencia a hojas de ruta. Para ello, debe definir un procedimiento de muestreo para la clase de inspección en la parametrización de inspección (vista de gestión de la calidad del maestro de materiales) o en el Customizing.

Utilizando la clase de muestreo, el sistema propone una lista de normas para la determinación de muestreo. Si sólo hay una norma disponible, se selecciona automáticamente.

El modo de valoración (por ejemplo, la inspección por atributos basada en unidades defectuosas, la inspección variable según el método s [un límite], sin parámetros de valoración) define las normas para aceptar o rechazar una característica o un muestreo. La clase de valoración, el modo de valoración especifican qué parámetros utiliza el sistema para determinar un tamaño de la muestra.

Si quiere utilizar puntos de inspección en el procedimiento de muestreo, necesita fijar un indicador para el área de aplicación correspondiente. Este indicador especifica cuántos puntos de inspección se deben crear para cada lote de inspección.

Si no quiere que se modifiquen dinámicamente las características individuales en un plan de inspección, puede asignar un procedimiento de muestreo en el que se fije el indicador Ningún cambio de etapa. En este caso, el sistema determina el grado de inspección para calcular el tamaño de la muestra para esas características del procedimiento de muestreo.

• Muestreos únicos y grabar resultados de inspección de una característica
• Muestreos múltiples independientes y grabar resultados de inspección de muestreos diferentes de una característica
• Muestreos múltiples dependientes y grabar resultados de inspección de muestreos diferentes de una característica

Si utiliza un plan de inspección o una especificación de material para la determinación de muestreo, asigne un procedimiento de muestreo a la característica de inspección o defina un procedimiento de muestreo en el Customizing.

Si quiere que también se modifique dinámica mente una característica y si quiere usar un plan de muestreo para la determinación de muestreo, debe actualizar las relaciones permitidas para el procedimiento de muestreo y la regla de dinamización directamente después de grabar el procedimiento de muestreo.

Sólo puede utilizar algunos procedimientos de muestreo en planes de inspección, en función de si utiliza puntos de inspección. Por ejemplo, si desea utili zar procedimientos de muestreo en la gestión de muestras, debe especificar la identificación adecuada del punto de inspección en el procedimiento de muestreo.

Si no utiliza un plan de inspección o una especificación de material, tiene las opciones siguientes para actualizar la clase de inspecció n en el maestro de materiales: E n la parametrización de inspección de la vista Gestión de la calidad del maestro de materiales, puede:

• Fijar el indicador Inspección al 100 %
• Definir un porcentaje de muestreo fijo
• Especificar un procedimiento de muestreo para fijar el tamaño de la muestra

Procedimiento de muestreo con muestreo fijo

Procedimiento de muestreo con muestreo porcentual

Procedimiento de muestreo con plan de muestreo

Actualización del procedimiento de muestreo para gráficos de control de calidad