Creación de un plan de muestreo (Biblioteca SAP

Creación de un plan de muestreo

Seleccione Logística ® Gestión de calidad ® Planificación de calidad ® Datos básicos ® Muestreo ® Plan de muestreo ® Crear.

En la pantalla inicial para crear un plan de muestreo, introduzca un identificador del plan de muestreo y seleccione Plan de muestreo.

Nota

Puede utilizar un plan de muestreo existente como modelo de copia. Para hacerlo, seleccione Plan de muestreo ® Copiar. Introduzca el identificador del plan de muestreo que quiere copiar y seleccione Copiar. El sistema muestra la pantalla de datos de cabecera con los datos copiados, que puede modificar si es necesario.

Aparecerá la pantalla de datos de cabecera, donde puede:

Introducir un texto breve para el plan de muestreo

Especificar el parámetro de valoración para la clase de inspección por muestreo para la que debe utilizarse el plan de muestreo

Especificar si la tabla de muestreos se aplica sólo a un grado de inspección o a una combinación de grados de inspección y NCA
Fijar el indicador de bloqueo para impedir que el plan de muestreo se asigne a un procedimiento de muestreo

Introduzca los datos necesarios y seleccione Continuar.

Aparecerá una ventana de diálogo en la que debe introducir los grados de inspección o los grados de inspección con valores NCA.

Si	Entonces
Se creó el plan de muestreo copiando un plan de muestreo existente	Seleccione un grado de inspección o un grado de inspección y un valor NCA
Se creó el plan de muestreo sin copiar un plan de muestreo existente	Introduzca un grado de inspección o un grado de inspección y un valor NCA

Nota

El grado de inspección que introduzca está muy relacionado con el grado de inspección de la regla de dinamización. En la determinación de muestreo del lote de inspección, normalmente se determina el grado de inspección actual por medio del nivel de calidad y la regla de dinamización. El grado de inspección conduce a la instrucción de muestreo correspondiente en el plan de muestreo.

En este campo, puede introducir únicamente grados de inspección que se definieron en el Customizing.

Seleccione Continuar.
En la pantalla para crear una tabla de muestreos, introduzca los datos siguientes:

Para	Introduzca
Una inspección por atributos	El tamaño de lote, el tamaño de la muestra, los números de aceptación c (opcional) y los números de rechazo d
Una inspección variable	El tamaño de lote, el tamaño de la muestra y el factor K.
Una inspección sin parámetros de valoración	El tamaño de lote y el tamaño de la muestra

Nota

Además de la aceptación y los números de rechazo para el primer muestreo, el plan de muestreo contiene campos para seis muestreos adicionales con números de aceptación y de rechazo para el uso en procedimientos de muestreo para muestreos múltiples dependientes.

Grabe el plan de muestreo.

Véase también:

Plan de muestreo sin parámetros de valoración